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Testbench de seguridad integrado para pruebas simplificadas
La plataforma modular integrada optimiza los flujos de trabajo de pruebas complejas, aumenta la eficiencia y garantiza resultados consistentes y repetibles, todo al tiempo que prepara el LAB para futuros desafíos de seguridad.
Keysight Technologies, Inc. anunció el lanzamiento de su Testbench de seguridad integrado de próxima generación, una solución basada en PXIE escalable y de alto rendimiento diseñada para simplificar y fortalecer los flujos de trabajo de pruebas de seguridad para semiconductores modernos y sistemas integrados.Los desarrolladores y los laboratorios de seguridad enfrentan amenazas cada vez más complejas a medida que el número de dispositivos conectados continúa aumentando.Las configuraciones de pruebas de seguridad tradicionales, a menudo dependiendo de múltiples instrumentos independientes, pueden crear flujos de trabajo que requieren mucho tiempo, resultados inconsistentes y flexibilidad limitada.
Las características clave son:
Ofrece resultados de pruebas superiores con los mejores dispositivos de medición de teclas en su clase.
Interfaz fácil de usar con algoritmos inteligentes basados en la experiencia: centrarse en los resultados, no la configuración.
Testbench a prueba de futuro y scriptable para escenarios de prueba en evolución.
Flexible y compatible con los dispositivos de prueba existentes.
La configuración integrada reduce el desorden y aumenta la eficiencia.
La solución aborda estos desafíos al ofrecer una plataforma modular totalmente integrada diseñada para agilizar las pruebas de vulnerabilidad del dispositivo al tiempo que mejora el rendimiento y la repetibilidad.Tiene una arquitectura basada en PXIE trae una velocidad y escalabilidad excepcionales a las pruebas de seguridad de hardware.Como parte de la evolución de la cartera de análisis de vulnerabilidad de dispositivos de la compañía, esta plataforma ofrece resultados significativamente mejorados para técnicas de prueba críticas, como el análisis de canal lateral (SCA) e inyección de fallas (FI), que ofrece un impulso de diez veces en eficiencia en comparación con las configuraciones tradicionales.
El diseño modular consolida los componentes de prueba clave (osciloscopios, interfaces de señal, amplificadores y generadores de activación) en un solo chasis PXIE.Esto reduce la complejidad de la configuración, minimiza el cableado y mejora las velocidades de comunicación entre los módulos, lo que permite a los equipos acelerar los flujos de trabajo de seguridad y mantener una mayor consistencia en los resultados de las pruebas.Está impulsado por tres componentes centrales: el chasis M9046A PXIE, el controlador integrado de alto rendimiento M9038A PXIE y el software de inspector.
La flexibilidad del sistema permite una fácil expansión con osciloscopios adicionales, sondas electromagnéticas (EM) y otros módulos especializados, adaptándose a escenarios de prueba en evolución y necesidades del cliente.Wei Yan Mao, director de operaciones de Applus+ Laboratories, compartió: "Vimos el potencial de esta plataforma y estábamos ansiosos por integrarlo en nuestras instalaciones de evaluación de seguridad de TI acreditadas".Erwin In 'T Veld, Gerente de Producto del Laboratorio de Investigación de Seguridad de Dispositivos de Keysight, agregó: "Esta plataforma establece un nuevo punto de referencia en pruebas de seguridad integradas, ayudando a los usuarios a mantenerse a la vanguardia del panorama de amenazas mientras se preparan para desafíos futuros".