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Dos nuevos sistemas de prueba para dispositivos semiconductores
Las configuraciones de prueba de semiconductores listas para usar reducen el tiempo de calibración y ayudan a los investigadores a lograr resultados consistentes desde el prototipo hasta la producción.
Probar nuevos dispositivos semiconductores como el carburo de silicio (SiC) y el nitruro de galio (GaN) a menudo requiere configuraciones complicadas que requieren tiempo para construirse y calibrarse.Los ingenieros e investigadores necesitan resultados precisos durante las pruebas para diseñar productos confiables.
Microtest Group lanza dos nuevos sistemas de prueba: Quasar200 y Pulsar600. Estas herramientas de prueba resuelven el problema con una configuración complicada con plug-and-play, que permite a los usuarios comenzar a probar dispositivos semiconductores de potencia sin construir equipos de prueba personalizados ni realizar cableado complejo.Esto ayuda a los laboratorios y a los ingenieros a ahorrar tiempo mientras recopilan datos confiables y repetibles.
El Quasar200 está diseñado para probar dispositivos semiconductores de potencia estándar y de gama media fabricados con silicio (Si), nitruro de galio (GaN) y carburo de silicio (SiC).Se centra en mediciones precisas de CC y CA, lo que lo hace adecuado para investigación de laboratorio, caracterización de dispositivos y desarrollo de hojas de datos.
El Pulsar600 está diseñado para pruebas de alta corriente y alta potencia, particularmente para inversores y sistemas automotrices basados en SiC.Admite pruebas de estrés y cortocircuitos de hasta 1000 A CC y más de 10 000 A CA, lo que ayuda a los ingenieros a validar el rendimiento y la seguridad de los módulos de potencia de próxima generación utilizados en vehículos eléctricos y aplicaciones industriales.
Los sistemas miden el rendimiento de los dispositivos semiconductores en condiciones de alta corriente y voltaje.Quasar200 está diseñado para probar dispositivos de silicio, GaN y SiC utilizados en electrónica y sistemas de energía.Realiza mediciones de CC y CA rápidas y precisas con baja interferencia.Pulsar600 extiende esta capacidad a aplicaciones de corriente muy alta, como pruebas de inversores y automóviles, manejando hasta 1000 amperios CC y más de 10 000 amperios CA.
Ambos sistemas mantienen registros de auditoría detallados para realizar un seguimiento de la precisión de los datos.Esto permite a los investigadores y a las empresas comparar los resultados de laboratorio con las pruebas de producción a nivel de fábrica al desarrollar hojas de datos o calificar nuevos dispositivos.
La seguridad está integrada en ambos sistemas.Incluyen áreas de prueba cerradas y la protección SocketSafe de ipTEST, que aísla la energía cuando se abre el equipo o se producen fallas.Los enchufes de baja inductancia reducen el ruido eléctrico y mejoran la estabilidad de la prueba.
Características clave
Configuración plug-and-play: sistemas de prueba listos para usar que eliminan la necesidad de equipos personalizados o conexiones soldadas.
Amplia compatibilidad con dispositivos: Compatible con dispositivos de silicio (Si), nitruro de galio (GaN) y carburo de silicio (SiC).
Capacidad de alta corriente: Admite pruebas de corriente ultraalta de hasta 1000 A CC y 10 000 A+ CA, adecuado para inversores de SiC y sistemas automotrices.
Precisión de medición: ±0,1% de precisión en todas las formas de onda de voltaje y corriente.